Objetivos: El síndrome SMART consiste en episodios prolongados y reversibles de disfunción neurológica asociados a cefalea en pacientes sometidos a radioterapia cerebral (RT) que se acompaña de cambios típicos en la neuroimagen. El objetivo del presente estudio es analizar la supervivencia y discapacidad a largo plazo de pacientes con SMART.

Material y métodos: Revisión de pacientes diagnosticados de SMART (según criterios del 2021) entre 2010 y 2023 procedentes de 7 hospitales.

Resultados: Incluimos 26 pacientes (54% hombres), edad mediana de 48 años (19-80) y con una mediana de tiempo desde la RT hasta el primer episodio SMART de 11,5 años (1-37). La mediana de duración de cada episodio fue de 14 días (1-37). Un 8% (2/26) requirió ingreso en UCI y un 50% (13/26) tuvo episodios recurrentes (entre 2 y 5). Los factores relacionados con el riesgo de recurrencia fueron: la duración del primer episodio (p = 0,048) y la presencia de hiperintensidad cortical en T2/FLAIR (p = 0,023). En cuanto a la discapacidad, un 61,5% (16/26) presentó un mRankin ≥ 3. Un 38,5% (10/26) presentó progresión tumoral y un 26,9% fallecieron (7/26). La mediana de supervivencia fue de 59 meses (2-166). El único factor asociado a una menor supervivencia fue la edad en el primer episodio (p = 0,001).

Conclusión: El riesgo de recurrencia del síndrome SMART aumenta cuanto mayor es la duración del primer episodio y cuando este asocia hiperintensidad cortical en T2/FLAIR. El síndrome SMART condiciona una alta discapacidad a largo plazo y la supervivencia es menor en aquellos pacientes de mayor edad.